22-09-2017
ФТИ: возвращаясь к нанотехнологиям

 

Результаты исследований, полученных на новом оборудовании Лаборатории мезо- и наноструктурированных функциональных материалов Физико-технического института Крымского федерального университета имени В. И. Вернадского, были представлены на Международной конференции «Сканирующая Зондовая Микроскопия – 2017», которая состоялась в Уральском федеральном университете имени первого Президента России Б.Н. Ельцина.

По информации директора ФТИ Марины Глумовой, конференция была посвящена широкому кругу вопросов, связанных с современным состоянием и перспективами развития методов Сканирующей Зондовой микроскопии в таких областях науки, как физика, химия, материаловедение, биология, медицина.

«Современное развитие технологий выдвигает жесткие требования к материалам и часто одного измерения объемных свойств недостаточно. Это, прежде всего, касается полупроводниковых приборов, солнечных элементов, жестких дисков, новых типов магнитной памяти, размеры которых уменьшаются год от года, — пояснила Марина Глумова. — В этих случаях локальное измерение свойств может помочь в повышении точности измерения объемных свойств. С помощью СЗМ можно одновременно измерять топографию поверхности и исследовать ее магнитные и электрические свойства или локальные оптические свойства материалов с нанометровым разрешением».

Кроме того, Марина Глумова отметила, что подобные исследования ведутся в недавно созданной в ФТИ КФУ лаборатории мезо- и наноструктурированных функциональных материалов.

«Доклад, представленный заведующей лабораторией Татьяной Михайловой, был посвящен применению атомно-силовой микроскопии для контроля технологии синтеза многослойных наноструктур на основе висмут-замещенных ферритов-гранатов, которые используются при создании магнитооптических сенсоров. Также самое активное участие в исследованиях приняла студентка магистратуры по специальности «Техническая физика» кафедры экспериментальной физики Алина Крикун, которая в совершенстве освоила работу на довольно сложном приборе – сканирующем зондовом микроскопе Ntegra», — добавила она.

Также на конференции был представлен доклад по результатам совместной работы Научно-исследовательского центра функциональных материалов и нанотехнологий ФТИ КФУ по исследованию доменной структуры и магнитной записи в высококоэрцитивных пленках ферритов-гранатов методами магнитно-силовой микроскопии.

Отдельно, Марина Глумова подчеркнула, что доклады вызвали интерес, у коллег и это в который, раз подтвердило высокий научный уровень разработок Физико-технического института КФУ.

«Цель участия в работе конференции – ознакомиться с самыми последними научными достижениями в области СЗМ и продемонстрировать достижения КФУ в области нанотехнологий была достигнута, а материалы, прошедшие апробацию на конференции, будут изданы как регулярные статьи в международных рецензируемых журналах», — подытожила она.

В конференции приняли участие около 150 ученых из 8 стран и 24 городов России. Было представлено 14 приглашенных, 44 устных и 104 стендовых доклада.

Спонсорами и участниками выставки современного оборудования для СЗМ выступили Российский фонд фундаментальных исследований, Taylor&Francis, NT-MDT Spectrum Instruments, Мелитэк, Промэнерголаб, OSTEC, OPTEC, INTERTECH Corporation, SITEC, Conetech и IMC.

Пресс-служба КФУ